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扫描电镜（SEM）是一种非常有用的分析技术，用于观察和分析样品的表面形态和结构。在进行扫描电镜分析时，样品抛光和导电性是非常重要的因素，具体原因如下。
1、抛光的原因：
提高样品表面的平整度抛光可以消除样品表面的划痕、污渍和其他缺陷，使表面更加平滑，从而获得更清晰的图像。
暴露新鲜表面在某些情况下，例如研究材料的磨损或腐蚀等，抛光可以帮助暴露样品的新鲜内部表面，以便更准确地观察和分析。
2、样品必须导电的原因：
电子交互扫描电镜利用电子束扫描样品表面，产生各种信号（如二次电子、反射电子等），这些电子与样品表面的原子相互作用，如果样品不导电，电荷积累可能导致静电干扰，影响图像质量。
避免电荷积累造成的图像失真不导电的样品在电子束的轰击下可能产生电荷积累，导致图像出现失真或噪声，为了确保获得高质量的图像，样品需要具有良好的导电性。
对于一些不导电的样品，可以采用涂层或其他方法提高其导电性，例如金属涂层或碳涂层，以便在扫描电镜下更好地观察和分析，抛光和导电性是确保扫描电镜分析准确性和可靠性的关键因素。